Dalrate.ru

Построение рабочей локальной сети

Анализ методом «Наихудшего случая»

Данный метод заключается в том же, что и метод «Максимума-минимума», только пределы и варьирование определяются исходя из наихудшего случая.

Определим разброс по формуле:

Найдем 2min = 1600 - 320/10 =1568

R2max = 1600+20=1632

R5min = 6400 - 1280/10 =6272

R5max = 6400+12=6528

Найдем :

ΔR2 = 320 Ом

Найдем

ΔR5 = 1280 Ом

Рассчитаем :

Запишем коэффициент усиления с получившимися пределами:

Ku = 97,9 ± 37,64

Из расчёта по данному методу видно, что пределы варьирования коэффициента усиления средней величины, следовательно, выбранные элементы нас устраивают полностью.

. Анализ методом «Наихудшего случая» в программе OrCAD

Данный метод заключается в том, что схема моделируется в программе OrCAD, при этом на все элементы устанавливается допуск (20%). Далее по данной схеме строим АЧХ при нулевых допусках, а затем с допуском на повышение и понижение параметров.

Собираем схему:

Рис. 2 Схема для анализа в программе OrCAD

Моделируем работу усилителя и задаем анализ наихудшего случая (Worst Case), получаем:

Рис. 3 АЧХ с повышением параметров (нижний график - АЧХ при номинальных значениях элементов)

Рис.4. АЧХ с понижением параметров (верхний график - АЧХ при номинальных значениях элементов)

Из полученных графиков делаем вывод, что при повышении номиналов коэффициент усиления растет, а при понижении - падает. Отклонение коэффициента усиления не выходит за допустимые пределы. Элементы с указанными допусками удовлетворяют наши требования к отклонению коэффициента усиления. Отличие результатов данного метода по сравнению с предыдущими методами связано с тем, что программа OrCad произвела моделирование с учетом варьирования номиналов на все элементы схемы.

Популярное:

Исследование наноструктурированной поверхности на АСМ Solver HV Целью курсовой работы является изучение принципов сканирующей зондовой микроскопии, получение навыков работы на АСМ SOLVERHV. Преимущество АСМ SOLVER HV состоит в том, что система позволяет проводить параллельно с изучением топографии поверхности исследуемого образца физические, магнитные, электрические и электростатические хара ...